Как тестировать электронные устройства? Возможности стандарта IEEE 1149.1
В 1990 году был разработан стандарт IEEE 1149.1, призванный решить проблемы тестирования электронных устройств. Основная цель стандарта заключается в описании архитектуры электронной микросхемы, позволяющей тестировать её вводы и выводы на программном уровне. Поддерживающие такую архитектуру микроконтроллеры имеют возможность внутрисхемной отладки, отпадает необходимость контролировать сигналы на выводах с помощью осциллографов, тестеров и других измерительных приборов. В архитектуре реализуется возможность как задавать выходные сигналы микросхемы, так и контролировать приходящие с печатной платы. Это позволяет отлаживать логику работы устройства и контролировать качество монтажа (пайки).
Устройство отладки связывается с электронной микросхемой по физическому каналу, имеющему сигнальные линии:
- TDI – данные на вход.
- TDO – выход последовательных данных.
- TMS – управление TAP контроллером.
- TRST – линия сброса.
- TCK – тактовая частота.
Внедрение архитектуры с поддержкой JTAG позволяет создать тесты для проверки функционирования готового устройства. В конечном итоге это приводит к уменьшению времени выхода продукта на рынок. Кроме того, использование тестов на выходном контроле продукции при серийном производстве позволяет поддерживать качество устройств на высоком уровне, следовательно, повысить репутацию производителя и снизить издержки по рекламационной работе.
Компания Atmel реализует JTAG в своих микроконтроллерах (например, в ATMega и ATTiny) и предоставляет разработчику удобные инструменты, интегрированные в среду AVRStudio.
Для заказа продукции:
Звоните: +7(495) 374-61-00
Пишите: sales@el-ra.ru